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介電常數(shù)測試儀器

簡要描述:介電常數(shù)測試儀器信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)
10KHZ-70MHz
10KHZ-110MHz
100KHZ-160MHz
信號(hào)源頻率覆蓋比
7000:1 11000:1 16000:1
信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)

  • 更新時(shí)間:2024-11-07
  • 瀏覽次數(shù):1820

詳細(xì)介紹

 

介電常數(shù)測試儀器

 介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成:

1. 主機(jī):LJD-C/LJD-B/LJD-A 高頻Q表

功能名稱:

LJD-B

LJD-A

LJD-C

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

 

100KHZ-160MHz

信號(hào)源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個(gè)字  

3×10-5 ±1個(gè)字   

3×10-5 ±1個(gè)字   

采樣精度

11BIT

11BIT

12BIT

高精度的AD采樣,保證了Q值的穩(wěn)定性,以及低介質(zhì)損耗材料測試時(shí)候的穩(wěn)定性

Q測量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H  分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測量誤差

<3%

<3%

<3%

調(diào)諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測量范圍

1pF2.5uF

1pF2.5uF

1pF25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

Q合格預(yù)置范圍 

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動(dòng)/手動(dòng)

自動(dòng)/手動(dòng)

自動(dòng)/手動(dòng)

LCD顯示參數(shù)

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

FL,C,QLt,Ct波段等

F,L,C,Q,LtCt波段等

自身殘余電感和測試引線電感的
自動(dòng)扣除功能()

大電容值直接測量顯示功能()

測量值可達(dá)2.5uF

測量值可達(dá)2.5uF

測量值可達(dá)25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬分之

精度 萬分之

精度 萬分之

最小介損系數(shù)

萬分之

萬分之

萬分之

介電常數(shù)

精度 千分之一

精度 千分之一

精度 千分之一

材料測試厚度

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

USB接口

不支持

不支持

支持

 介電常數(shù)測試儀器

2. S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

固體:材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可選;厚度可調(diào) ≥ 15mm (二選一)  

液體:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)

3. LKI-1電感組

電感No

電感量

準(zhǔn)確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數(shù)測試頻率

LJD-B-A

LJD-C

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

14NH

±5%

80

8pF

  

100MHZ

注意: 可定制100MHz電感.

LJD-A主機(jī)和LJD-B/LJD-C區(qū)別在于可以測試精度0.0001的材料介損值

 

三 LJD高頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:

1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

 

 

 

 

四 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗界面顯示

 1619142829(1).jpg

LJD-C介電常數(shù)顯示

 1619142805(1).jpg

LJD-A/LJD-B/LJD-C介質(zhì)損耗系數(shù)顯示

1619142766(1).jpg

 

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