LJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀

一、介電常數(shù)介質損耗測試儀概述：

LJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀是我公司D家研制生產的產品，自該產品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產品的軟件，仿制假冒我公司的產品進行銷售，給不了解情況的客戶將帶來損失。因為這些產品的軟件存在不足之處，（如在主電容調節(jié)至80pf左右時，電容指示值會出現(xiàn)跳變，出現(xiàn)180pf左右的指示值；在介質損耗測試時，當材料的損耗較大時，介質損耗值會出現(xiàn)錯誤。）但又無法得到升級完善，產品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。

二、介電常數(shù)介質損耗測試儀技術參數(shù)：

信號源頻率范圍：        DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz 

Q測量范圍：            1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比：      6000:1      

Q分辨率：                  4位有效數(shù),分辨率0.1

信號源頻率精度：          3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)    

Q測量工作誤差：          <5%

電感測量范圍：               15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH         

調諧電容：                  主電容30-500PF

電感測量誤差：               <5%

調諧電容誤差和分辨率：  ±1.5P或<1%

標準測量頻點：               全波段任意頻率下均可測試    

Q合格預置范圍：           5-1000聲光提示

諧振點搜索：              自動掃描

Q量程切換：              自動/手動

諧振指針：                  LCD顯示         

LCD顯示參數(shù)：              F,L,C,Q,波段等

三、介電常數(shù)介質損耗測試儀夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、介電常數(shù)介質損耗測試儀配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套